Leistungshalbleiterkarte

Für den experimentellen Umgang mit Leistungshalbleitern werden solide Fassungen entsprechend der jeweiligen Bauform benötigt. Obwohl das Lehrmittel als Leistungshalbleiterkarte gekennzeichnet ist, kann sie natürlich auch für alle anderen aktiven und passiven Bauteile verwendet werden, die in den Schraub-, Steck-, und Spannvorrichtungen solide fixiert werden können. Insofern kann die Karte überall dort zum Einsatz kommen, wo z.B. mit folgenden Halbleiterbausteinen experimentell gearbeitet werden soll:

Dioden, Leistungsdioden, Spezialdioden, Transistoren, FETs, MOSFETs, Leistungstransistoren, Thyristoren, Triacs, Spannungsregler usw..

Das Lehrsystem ist geeignet für die experimentelle Aufnahme von Halbleitern mit den Gehäusebauformen der folgenden Typen:

•  TO-3     •  TO-72     •  DO-35
•  TO-5     •  TO-92     •  DO-41
•  TO-18   •  TO-218   •  DO-220
•  TO-39   •  TO-220      

u.ä..

Die Anschlüsse des Lehrsystem sind auf 2mm-Buchsen geführt.

Die beiden Fassungen spannen die Bauteile mit Betätigungsdrückern ein. Sie besitzen ein schmales Rastermaß (RM) 2,54mm zur Aufnahme von Bauteilenden bis max. 0,5mm² Stärke.

Sie eignen sich somit für die experimentelle Aufnahme von Halbleitern im RM 2,5mm bzw. 2,54mm mit den Gehäusebauformen (JEDEC) des Typs:

•  TO-5     •  TO-72     •  TO-220
•  TO-18   •  TO-92     
•  TO-39   •  TO-218     

u.ä..

Die Anschlüsse sind auf 2mm-Buchsen geführt.

Die beiden Fassungen spannen die Bauteile durch Federkontakte ein. Sie besitzen ein Rastermaß (RM) von 5,0mm zur Aufnahme von Bauteilenden bis max. 2,5mm² Stärke.

Sie eignen sich somit für die experimentelle Aufnahme von Halbleitern deren Pin-Abstand ein Vielfaches von 5mm bzw. 5,08mm ist, wie

•  DO-35     •  DO-220     •  DO-41

u.ä..

Die Anschlüsse sind auf 2mm-Buchsen geführt.